光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀

簡要描述：光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A 可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數(shù)表征，如全光譜量子效率 QE、整體系統(tǒng)增益 K、時間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角 CRA。

產(chǎn)品型號： SG-A

所屬分類：光焱量子效率分析儀

更新時間：2023-08-03

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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詳情介紹

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　　SG-A 系統(tǒng)是一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A 可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數(shù)表征，如全光譜量子效率 QE、整體系統(tǒng)增益 K、時間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角 CRA。被測設(shè)備可以是幾種類型的 CMOS 圖像傳感器模塊。檢驗程序符合 EMVA 1288 標(biāo)準(zhǔn)。因此，SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀可用于進(jìn)行晶圓級光學(xué)檢測、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計、微透鏡驗證。SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的高度準(zhǔn)直光束（<1°）可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測困難。這些工藝包括小像素（< 1 um）、BSI 和 3D 堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設(shè)計等等。

特色

無損光學(xué)檢測。
高度準(zhǔn)直梁角 / 高準(zhǔn)直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型號)
高均勻光束點：≥ 99%。
光的不穩(wěn)定性 ≤1%。
高動態(tài)范圍測試能力：80dB ~ 140dB（不同型號）。
可以測試 CMOS 圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流 / 噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光響應(yīng)不均勻性）、CRA（射線角）。
全光譜波長范圍：300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm（PTC）。
波長可擴(kuò)展至 1700 納米以上。
DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級，CIS 攝像頭，有 / 無微透鏡。
SG-A 和 DUT 之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。
定制的測試夾具和平臺（手動或自動，多 6 軸）。
強(qiáng)大的分析軟件 ARGUS®。
應(yīng)用：指紋識別（CIS + 鏡頭，CIS + 準(zhǔn)直器，TFT 陣列傳感器）CIS 的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學(xué)檢測，CIS DSP 芯片算法開發(fā)，Si TFT 傳感器面板，飛行時間相機(jī)傳感器，接近傳感器（量子效率，靈敏度，線性度，SNR 等），d-ToF 傳感器，i-ToF 傳感器，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS），指紋顯示（FoD）傳感器。

規(guī)格

SG-A 型 CMOS 圖像傳感器測試儀的功能非常強(qiáng)大，因此相關(guān)的規(guī)格和配件也非常齊全。請與我們聯(lián)系，以了解更多細(xì)節(jié)和選擇咨詢, 以下是主要的能力規(guī)格：

– 全光譜的波長范圍：300 – 1100 納米或 350 – 1000 納米（PTC）。
– 波長范圍可以擴(kuò)展到 1700 納米或更高。
– 單一波長源。470 納米, 530 納米, 630 納米, 940 納米（±5納米）或自定義。
– 動態(tài)范圍：80dB、100dB 或 140dB。
– 測試夾具：DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或訂制。
– 平臺：無，手動 3 軸或 6 軸（手動 + 自動）平臺（可訂制)

應(yīng)用范圍